X射线晶体劳厄照相与定向仪PCB抄板及二次开发

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照相 ：利用背射劳厄照相，底片安装在晶体与射线源之间，而入射光束则在底片上的小孔通过，所记录的为向后方向上的衍射光束，用衍射光束的方向来测量未知晶体单位晶胞的的形状和大小，以测定晶体的取向和评定晶体的完善性。

定向 ：对晶体材料进行精确测角定向，利用 X 射线通过前置单色器，衍射线被单色化后照射到样品上，符合公式 n λ =2dsin θ时产生衍射，被计数管接收放大，通过表显示强度，测角仪读出准确角度值。

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